賽默飛波長色散X射線熒光光譜儀

主要分析功能

·獨特的WDXRF掃描和/或固定道相結合的能力
·根據配置，分析元素范圍可從F到U（C元素選加固定道）創新的UCCO技術（超短距光學耦合）將強度提高至傳統幾何結構的210%
·用于順序分析的獨特的測角儀—SmartGonio
·掃描—固定道配置實現靈活的快速分析
·用于快速分析的多元素固定道—Multichromator
·光譜室和晶體的溫控，使儀器有很好的精度（短期和長期重現性）
·從輕元素到重元素都具有譜線分辨率（CaKα～15eV）
·用于需要簡化操作的特定應用的最佳配置
·（符合ISO或ASTM標準）可進行手動和自動操作，不需要水冷
·無需供氣（根據配置要求）, 簡單和直接進樣
·帶自動進樣器的自動批處理分析
·占地面積小

保證快速和靈活性的配置

·4個Multichromator：最多可同時分析8個元素
·SmartGonio測角儀：用于順序分析
·掃描---固定道分析：SmartGonio測角儀和1個 
·Multichromator多元素固定道（同時分析2個元素） 50W基本功率或200W可選功率，200W的功率選擇可使分析速度提高2.5倍

多種樣品

ARL OPTIM´ X光譜儀能夠分析多種樣品：導電或非導電固體、液體、松散粉末、壓片、玻璃融片、糊狀物、顆粒和涂料。該儀器可以按照您的特定應用需求提供優化的配置。

快速定性分析

步進掃描峰位定義分辨率為0.001°。針對快速定性分析，連續自動掃描以327°/分采集光譜并自動進行峰譜識別。